SavePearlHarbor

Нарезали снимок на фрагменты: что помогло мелким дефектам и что сломало крупные

—

от автора

admin

Привет, Хабр! Меня зовут Максим, я студент РТУ МИРЭА. Это продолжение статьи «Мелкие дефекты теряются, а метрика молчит». В ней я сравнивал Mask R-CNN и YOLO на 1812 производственных снимках с повреждениями автомобилей и закончил на тайлинге: если снимок резать на куски, мелкие объекты не будут ужиматься вместе со всем кадром.

До тайлинга я в итоге добрался, и прямой дороги не получилось. Почти каждая попытка что-то чинила и одновременно что-то ломала. Ниже рассказ о том, какие шаги я делал, где ошибался и какие выводы из этого вынес.

Почему мелкое теряется

Снимки в наборе небольшие, в медиане около 714×479, и перед подачей в сеть их ещё уменьшают. Скол краски, который на исходной фотографии занимает несколько пикселей, после ресайза съёживается до размеров, где на самой подробной карте признаков FPN от него остаётся одна-две клетки. Цифру я уже приводил в прошлой статье: при входе 512 около 41% дефектов становятся меньше 8 пикселей, а у деталей кузова таких всего 1,6%.

Если посчитать AP отдельно по размерам объектов, у обычной модели получается лестница: чем крупнее объект, тем выше качество, а на самых мелких почти ноль. Общая метрика выглядит прилично только потому, что её вытягивают крупные детали кузова. Отсюда и мысль: раз сеть не видит мелкое, надо показать ей его крупнее.

Схема из учебника

Идея тайлинга проще некуда:

  1. порезать снимок на фрагменты;

  2. каждый фрагмент растянуть до входного размера сети;

  3. искать объекты на фрагментах;

  4. вернуть найденное в координаты исходного снимка и убрать дубли;

  5. отдельно прогнать снимок целиком, чтобы не потерять крупные объекты.

Сама схема давно описана в литературе. Самое трудное здесь в двух вопросах: на каких данных обучать модель и как потом собирать вместе то, что нашлось на разных масштабах.

Что про это уже известно

SAHI (Akyon и др., 2022) нарезает изображение на перекрывающиеся куски уже на инференсе, и подойдёт любой детектор. Авторы проверяли на VisDrone и xView: без переобучения нарезка добавила 5,1–6,8% AP детекторам FCOS, VFNet и TOOD, а с дообучением на нарезанных данных 12,7–14,5%.

SNIP (Singh, Davis, 2018) показывает, что смена масштаба между обучением и тестом детекторам вредит. Поэтому обучение и тест там идут на одних и тех же масштабах пирамиды, а градиент на каждом масштабе дают только объекты подходящего для сети размера.

SNIPER (Singh и др., 2018) развивает это дальше: вместо целых изображений сеть учится на чипах вокруг объектов, и пикселей на это уходит лишь немногим больше, чем при обычном одномасштабном обучении.

Шаг 0. Режем только тестовые снимки

Самый дешёвый эксперимент: модель оставляем как есть, а режем только тестовые снимки. AP на мелких объектах вырос на 9,4%, mIoU на 8,8%. Цена: снимок теперь обрабатывается в 3–4 раза дольше, потому что модель прогоняется по каждому фрагменту отдельно. Результат вполне вписывается в то, что сообщают авторы SAHI, хотя данные и метрика у нас разные, так что сравнивать цифры напрямую нельзя.

Дальше я дообучил модель на фрагментах. С нарезкой на тесте она стала лучше, а на целом кадре оказалась хуже исходной. Этот урок потом повторялся на каждом шаге: если учили на одном масштабе, проверять надо на нём же. Модель, привыкшая к фрагментам, на целом кадре теряется.

Бывает и наоборот. В препринте про дефекты печатных плат (arXiv:2605.24726) YOLO12n, обученный на целых снимках, при тайловом инференсе почти ничего не находил, а версия, обученная на фрагментах, работала нормально. У меня Mask R-CNN, обученный на целых кадрах, нарезку на тесте перенёс спокойно. Детекторы и данные разные, поэтому вывод у меня один: в какую сторону и насколько бьёт рассогласование масштабов, надо проверять на своей модели.

Попытка 1. Увеличить всё посильнее

Фрагмент в нативном разрешении увеличивает объекты примерно вдвое по сравнению с ужатым целым кадром. Сколам в несколько пикселей этого мало. Тогда я решил резать совсем мелкие куски, увеличивать их в несколько раз и учить модель почти только на них.

Получился провал. На целом кадре общий AP упал примерно на треть, а полнота вдвое. Нарезка на тесте тоже не спасла: результат остался хуже базы.

Задним числом понятно почему. Целых кадров и крупных объектов в нормальном масштабе модель почти не видела. Её внутренние статистики подстроились под мир сильно увеличенных кусков, и обычный снимок стал для неё чужим доменом. Сильнее всего пострадали крупные классы: отсутствующая деталь кузова в маленький фрагмент просто не помещается.

Попытка 2. Смешать масштабы

Следующий шаг напрашивался: учить на смеси. В обучение пошли целые кадры, фрагменты в нативном разрешении и сильно увеличенные фрагменты вперемешку.

Провал по целому кадру почти закрылся, а с нарезкой на тесте получился лучший на тот момент результат. Объекты размером 10–20 пикселей заметно прибавили, на мелких дефектах качество выросло почти вдвое.

Радость закончилась, когда я разложил дефекты по размерам: качество на крупных дефектах просело примерно вдвое. Общий AP при этом вырос, и без разбивки по размерам я бы этого не заметил.

Объяснение простое. Большая вмятина или разбитая деталь при нарезке попадает во фрагменты по частям. Модель учится на обрывках, разметка обрывка не похожа на целый объект, а на тесте один дефект рассыпается на несколько частичных детекций. Мелкому сколу увеличение помогает, а большой вмятине вредит: во фрагменте от неё остаётся кусок без краёв.

Потом я нашёл способ вернуть крупные дефекты и при этом не потерять мелкие. Полный алгоритм и готовую библиотеку я опишу в отдельной статье позже.

Почему крупный дефект распадается на части

Про распад крупного дефекта при слиянии стоит поговорить отдельно. Обычное слияние через NMS или NMM с порогом IoU с ним справляется плохо. Авторы работы про Spatial Mask Merging (MDPI Mathematics, 2025) пишут, что порог по IoU не склеивает куски, которые почти не пересекаются. Они соединяют соседние маски одного класса в граф, находят кластеры корреляционной кластеризацией и сливают каждый кластер в одну маску, а R-дерево отсекает лишние сравнения.

В препринте про печатные платы подход другой: если детекцию у края фрагмента подтверждает соседний фрагмент, её вес повышается. Выигрыш там скромный, а слишком агрессивные настройки даже ухудшили метрику.

Прежде чем городить сложное слияние, распад стоит измерить. Берёте крупные дефекты из разметки и для каждого считаете, сколько предсказанных масок того же класса на него ложится. Доля дефектов, покрытых двумя и более масками, покажет, сколько качества на крупных теряется именно из-за фрагментации, а сколько из-за ошибок классификации. Сам я такой замер пока не делал.

Ограничения

  • Средний AP по восьми дефектным классам пока не выше базы. Общая метрика растёт в основном за счёт деталей кузова и мелких объектов, а на части крупных дефектов обычная модель всё ещё сильнее.

  • Редкие классы шумят. Крупных трещин в тесте единицы, и по AP этого класса выводов я не делаю. На самых мелких объектах разброс между запусками сравним с самим эффектом.

  • Нарезка обходится дороже в разы. Без нарезки на тесте выигрыш пропадает, а с ней снимок обрабатывается в несколько раз дольше. Для офлайн-дефектовки это терпимо, для потока в реальном времени без оптимизации нет.

  • На наборах с крупными объектами смысла почти нет. Я проверял на открытом датасете, где объектов, исчезающих при ресайзе, почти нет, и там обычная модель по целому кадру осталась лучшей. Нарезка выигрывает только на мелком.

Что проверить на своих данных

  1. По одной разметке, ещё до обучения, посчитайте, какая доля объектов после ресайза до входа сети становится меньше нескольких пикселей. Если таких единицы процентов, нарезка, скорее всего, навредит.

  2. Начните с нарезки только на тесте поверх уже обученной модели. Переобучать ничего не нужно, а потенциал виден сразу.

  3. Если дообучаете на фрагментах, проверяйте модель в том же режиме, в каком учили, и отдельно посмотрите обратное направление на своём детекторе.

  4. Не выкидывайте из обучения целые кадры. Модель, которая видела только увеличенные куски, на целом снимке беспомощна.

  5. Считайте AP по размерам объектов. Одна общая цифра легко прячет регресс на крупных.

  6. Если дубли склеиваются по IoU, посчитайте, какая доля крупных объектов получила две и более масок.

  7. Если фрагменты перекрываются, полноту у границ фрагментов смотрите отдельно. В препринте про печатные платы перекрытие заметно подняло полноту для дефектов у края.

  8. Обучайте несколько независимых запусков и сравнивайте парными тестами. На небольшом тесте разница в несколько тысячных AP часто оказывается шумом.

Вопросы к читателям

Каждый раз, улучшая мелкое, я что-то теряю на крупном. Если вы решали похожую задачу, расскажите: вы разводили модели по размеру объектов (одна на крупное, другая на мелкое) или вытягивали всё одной моделью? Как в проде вы сводите результаты разных масштабов, чтобы крупный дефект не рассыпался на несколько масок? И считал ли кто-нибудь долю фрагментации отдельной метрикой?

Источники

ссылка на оригинал статьи https://habr.com/ru/articles/1102908/